Автор: Алхимов Анатолий Павлович, Батаев Владимир Андреевич, Батаев Анатолий Андреевич

Описание
В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгено-структурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов, качества изготовленных их них материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.


ISBN: 978-5-9765-0207-9
Ссылка: http://love-magus.ru/book/369405.html
Категория: Машиностроение. Приборостроение
Книга 2007 года

Цена: 443.00 руб.